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- XRF-D7鍍層厚度分析儀
X熒光光譜鍍(du)層測厚(hou)儀(yi)，型號：XRF-D7，標配美國進口新一代SI-P探測儀(yi)，測試范圍：硫S-鈾U.鍍(du)層分析厚(hou)度(du)范圍：0.0035um--40um。
- 型號：XRF-D7
- 更新日期：2015-09-21 ￥119000
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- XRF-D8鍍層厚度分析儀
X熒(ying)光(guang)光(guang)譜鍍層測厚儀，型號：XRF-D8，標(biao)配(pei)美國進口SDD探測器，測試范(fan)圍：鎂Mg-鈾U.鍍層分析厚度范(fan)圍：0.0035um--40um。
- 型號：XRF-D8
- 更新日期：2015-09-21 ￥169000
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- XRF-9500鍍層厚度分析儀
目(mu)前常用的(de)(de)鍍層檢(jian)(jian)測(ce)(ce)方(fang)法(fa)主(zhu)要有(you)楔切法(fa)、光(guang)(guang)截法(fa)、電(dian)解法(fa)、厚度(du)差測(ce)(ce)量法(fa)、稱(cheng)重法(fa)、X射線熒(ying)光(guang)(guang)光(guang)(guang)譜(pu)(pu)法(fa)等。前五種(zhong)方(fang)法(fa)要損(sun)壞(huai)產(chan)品或產(chan)品表(biao)面，是屬于有(you)損(sun)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)，測(ce)(ce)量手(shou)段(duan)繁瑣，速度(du)慢。而X射線熒(ying)光(guang)(guang)光(guang)(guang)譜(pu)(pu)法(fa)的(de)(de)技術(shu)相對成熟，可以(yi)(yi)達到(dao)即時分析,無損(sun)檢(jian)(jian)測(ce)(ce),不需要任何耗材(cai),并且(qie)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)精(jing)度(du)可以(yi)(yi)達到(dao)小數點后(hou)四位(wei)數，是我(wo)國普及(ji)型貴金屬檢(jian)(jian)測(ce)(ce)技術(shu)的(de)(de)發展(zhan)方(fang)向。西凡(fan)科(ke)技生產(chan)的(de)(de)鍍層檢(jian)(jian)測(ce)(ce)儀使用的(de)(de)就是X射線熒(ying)光(guang)(guang)光(guang)(guang)譜(pu)(pu)法(fa)這(zhe)一*的(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)技術(shu)。
- 型號：XRF-9500
- 更新日期：2015-11-07 ￥129000
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- XRF-D7金屬鍍層厚度分析儀
金屬鍍(du)層厚度分析(xi)(xi)儀標配美國進口新一代SI-P探測(ce)儀，測(ce)試范圍：硫S-鈾U.鍍(du)層分析(xi)(xi)厚度范圍：0.0035um--40um。
- 型號：XRF-D7
- 更新日期：2016-11-09 ￥面議
