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- XRF-D7鍍層厚度分析儀
X熒光(guang)光(guang)譜鍍層(ceng)(ceng)測(ce)厚儀(yi)，型號：XRF-D7，標配美國進口新一代SI-P探(tan)測(ce)儀(yi)，測(ce)試范圍：硫S-鈾U.鍍層(ceng)(ceng)分(fen)析厚度范圍：0.0035um--40um。
- 型號：XRF-D7
- 更新日期：2015-09-21 ￥119000
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- XRF-D8鍍層厚度分析儀
X熒光光譜鍍層(ceng)測(ce)厚儀，型號：XRF-D8，標(biao)配(pei)美國進口SDD探測(ce)器，測(ce)試范圍：鎂(mei)Mg-鈾U.鍍層(ceng)分析(xi)厚度范圍：0.0035um--40um。
- 型號：XRF-D8
- 更新日期：2015-09-21 ￥169000
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- XRF-9500鍍層厚度分析儀
目前常用(yong)的(de)(de)(de)鍍(du)(du)層檢(jian)測(ce)(ce)方法(fa)主(zhu)要(yao)有楔(xie)切法(fa)、光(guang)截法(fa)、電(dian)解法(fa)、厚度差測(ce)(ce)量(liang)法(fa)、稱重法(fa)、X射(she)線熒(ying)光(guang)光(guang)譜法(fa)等。前五種(zhong)方法(fa)要(yao)損(sun)(sun)壞(huai)產(chan)品(pin)或(huo)產(chan)品(pin)表面，是屬(shu)于有損(sun)(sun)檢(jian)測(ce)(ce)，測(ce)(ce)量(liang)手段繁(fan)瑣，速度慢(man)。而X射(she)線熒(ying)光(guang)光(guang)譜法(fa)的(de)(de)(de)技(ji)(ji)術相對(dui)成熟，可(ke)以達到(dao)即(ji)時分(fen)析,無損(sun)(sun)檢(jian)測(ce)(ce),不需(xu)要(yao)任何耗(hao)材,并且檢(jian)測(ce)(ce)精度可(ke)以達到(dao)小數點(dian)后四位(wei)數，是我國普及(ji)型(xing)貴金屬(shu)檢(jian)測(ce)(ce)技(ji)(ji)術的(de)(de)(de)發(fa)展方向。西凡科技(ji)(ji)生產(chan)的(de)(de)(de)鍍(du)(du)層檢(jian)測(ce)(ce)儀(yi)使用(yong)的(de)(de)(de)就是X射(she)線熒(ying)光(guang)光(guang)譜法(fa)這一*的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)技(ji)(ji)術。
- 型號：XRF-9500
- 更新日期：2015-11-07 ￥129000
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- XRF-D7金屬鍍層厚度分析儀
金屬鍍(du)層厚(hou)(hou)度(du)分析儀(yi)標(biao)配美國進口新一代SI-P探(tan)測儀(yi)，測試范圍：硫S-鈾(you)U.鍍(du)層分析厚(hou)(hou)度(du)范圍：0.0035um--40um。
- 型號：XRF-D7
- 更新日期：2016-11-09 ￥面議
